Nyt strategiske partnerskab bringer to innovationsdrevne organisationer i spidsen for materialevidenskabelig forskning sammen.
Danske FOM Technologies har slået sig sammen med Xenocs i et strategisk partnerskab, der skal integrere FOMs præcisions-slot-die-coater med Xenocs’ avancerede røntgeninstrumentering for at muliggøre problemfri in situ-karakterisering af tyndfilm – et vigtigt skridt i optimeringen af processer for batterier, solceller, membraner, trykt elektronik og mere.
“Dette samarbejde er forankret i en fælles mission om at accelerere videnskabelig opdagelse. Kombinationen af vores skalerbare belægningsløsninger med Xenocs’ analytiske instrumenter i verdensklasse skaber nye muligheder for forskere til at karakterisere og forfine deres materialer i realtid, hvilket i sidste ende fremskynder innovationscyklussen,” siger Michael Stadi, Group CEO for FOM Technologies.
Begge virksomheder sigter mod at bygge bro mellem aflejring og analyse og give forskere mulighed for at få hurtigere indsigt i filmmorfologi, ensartethed og intern struktur under coatingprocessen.
“Vi er begejstrede for samarbejdet med FOM Technologies og ser frem til i fællesskab at give vores kunder en platform til udvikling og in situ-karakterisering af materialer til energilagring, vedvarende energi og meget mere.” siger Peter Høghøj, administrerende direktør hos Xenocs SA.